QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀

簡要描述：QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀測量鐵基及非鐵基材質膜厚
QNix4500為磁性和渦流兩用測厚儀，不僅可以用來測量鋼鐵等磁性基體，還可以用來測量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。

產(chǎn)品型號： QNIX4200/4500

所屬分類：安規(guī)計量儀器

更新時間：2024-09-10

廠商性質：生產(chǎn)廠家

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詳情介紹

    QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀

    QNix4200和QNix4500這兩種型號一體化/分體化設計，只需調零，無需校準，使用極其簡單。其中QNix4200為磁性測厚儀，可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；這兩個型號操作簡單，攜帶方便，精度高，為廣大用戶所喜愛。

    QNIX4200/4500測厚儀膜厚儀

    在傳統(tǒng)QNix®4500基礎上，為了滿足客戶不同的需要，特推出QNix®4500（分體式）機，探頭和主機之間通過一根探頭線連接起來，可以滿足特定測量環(huán)境（比如狹小空間）的需要，測量更方便，使用更人性化，性價比更高

    為了迎合用戶需要，還推出QNix®4500（大量程）機，使在鐵基測量模式下量程可擴大到5mm。

    產(chǎn)品優(yōu)點：

    •　只需調零，無需校準

    •　體積小巧，操作方便

    •　一機雙用，自動識別基體

    •　精度高

    •　價格便宜

    QNix®4500（分體式）介紹

    1簡單快速測量

    2不需要校準

    3自動開關機

    4大量程FE:0-5000umNFE:0-3000um

    5雙用探頭，性價比高

    6霍爾傳感器讓測量更穩(wěn)定

    7測量時聲音同步

    8紅寶石耐磨頭，壽命長

    9背光LED顯示，讀數(shù)更加清晰

    10自動識別測量基體

    11分體式探頭，滿足不同的測量環(huán)境

技術參數(shù)
磁性基體（Fe模式）	QNix4200/4500均有此功能
非磁性基體（NFe模式）	QNix4500有此功能
測量范圍	QN4200：Fe:0-3000um
	QNIX4500：Fe：0-3000um；NFe：0-3000um
	QNIX4500（5mm型）：Fe:0-5000um；NFe:0-3000um
	QNIX4500（分體型）：Fe:0-3000um；NFe:0-3000um
顯示精度	0.1um
精度	0-50um:≤±1um
	50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)
	1000-3000um≤±3%讀數(shù)
zui小接觸面	10×10mm/QNix4500
zui小曲率半徑	凸面：3mm；凹面：25mm
zui小基體厚度	Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
溫度補償范圍	0-60℃
顯示	LCD液晶（帶背光）
探頭	紅寶石固定式
電源	2×1.5V干電池
尺寸	100×60×27mm
重量	110g